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  • ContourX-200德國BRUKE中國代理白光干涉儀
    ContourX-200德國BRUKE中國代理白光干涉儀
    德國BRUKE中國代理白光干涉儀:具備性價(jià)比的ContourX-200光學(xué)輪廓儀為精確的、可重復(fù)的、非接觸式表面測量樹立了新基準(zhǔn)。占地面積小,融合了布魯克幾十年的專*白光干涉(WLI)創(chuàng)新技術(shù),具有強(qiáng)大的二維/三維高分辨測量能力。
    更新時(shí)間:2026-03-18    訪問量:75    型號:ContourX-200
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  • TI990德國BRUKER中國代理納米力學(xué)測試系統(tǒng)
    TI990德國BRUKER中國代理納米力學(xué)測試系統(tǒng)
    德國BRUKER中國代理納米力學(xué)測試系統(tǒng)以專*技術(shù)實(shí)現(xiàn)納米至微米尺度定量力學(xué)與摩擦學(xué)表征。產(chǎn)品涵蓋獨(dú)立臺式(TI系列)、電鏡聯(lián)用(PI系列)及在線自動(dòng)系統(tǒng),支持準(zhǔn)靜態(tài)壓痕、動(dòng)態(tài)力學(xué)(nanoDMA)、摩擦磨損、原位SPM成像及超快力學(xué)性能成像。配備環(huán)境控制模塊,可模擬實(shí)際工況。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、薄膜涂層、生物材料及能源等領(lǐng)域,為材料研發(fā)提供精準(zhǔn)、可靠的多維度測試解決方案。
    更新時(shí)間:2026-03-16    訪問量:89    型號:TI990
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  • UMT TriboLab德國BRUKER摩擦磨損與機(jī)械性能測試儀
    UMT TriboLab德國BRUKER摩擦磨損與機(jī)械性能測試儀
    德國BRUKER摩擦磨損與機(jī)械性能測試儀,采用模塊化設(shè)計(jì),可模擬旋轉(zhuǎn)/往復(fù)運(yùn)動(dòng)、潤滑、溫濕度及電化學(xué)腐蝕等復(fù)雜工況。系統(tǒng)集成全系列力傳感器與環(huán)境控制模塊,支持摩擦系數(shù)(低至10?³級)、磨損率、高溫硬度及機(jī)械性能測試。廣泛應(yīng)用于材料表面工程、CMP工藝開發(fā)、汽車制動(dòng)與生物醫(yī)學(xué)等領(lǐng)域,為摩擦學(xué)研究及材料可靠性驗(yàn)證提供精準(zhǔn)、可重復(fù)的實(shí)驗(yàn)室解決方案。
    更新時(shí)間:2026-03-16    訪問量:83    型號:UMT TriboLab
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  • FilmTek 2000德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀
    FilmTek 2000德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀
    德國BRUKER中國代理橢偏儀/膜厚儀基于非接觸式光學(xué)技術(shù),集成光譜反射、光譜橢偏及多角度聯(lián)用等多種配置,內(nèi)置先*材料模型與全局優(yōu)化算法,可快速、無損、高精度同步測定薄膜厚度、折射率、消光系數(shù)等參數(shù)。專*MADP與DPSD技術(shù)實(shí)現(xiàn)折射率分辨率高達(dá)2×10??,測量范圍覆蓋從亞原子層到超百微米厚度。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、光電子、先*封裝及硅光子學(xué)等領(lǐng)域,為薄膜表征提供精準(zhǔn)可靠的解決方案。
    更新時(shí)間:2026-03-16    訪問量:114    型號:FilmTek 2000
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  • 德國BRUKER中國代理生物型原子力顯微鏡
    德國BRUKER中國代理生物型原子力顯微鏡
    德國BRUKER中國代理生物型原子力顯微鏡專為生命科學(xué)設(shè)計(jì),實(shí)現(xiàn)AFM與超分辨光學(xué)系統(tǒng)(共聚焦、STED、STORM等)無縫集成,支持從單分子到組織樣品的原位形貌與力學(xué)測量。產(chǎn)品線涵蓋通用型NanoWizard、視頻級高速NanoRacer、快掃型ULTRA Speed及單分子力譜ForceRobot等系列,廣泛應(yīng)用于分子動(dòng)態(tài)追蹤、細(xì)胞黏附力測試與組織力學(xué)表征,助力用戶在納米尺度揭示生物物理機(jī)制。
    更新時(shí)間:2026-03-06    訪問量:130    型號:
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  • 德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak XTL
    德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak XTL
    德國BRUKER中國代理探針式輪廓儀Dektak XTL集五十五年技術(shù)積淀,是薄膜厚度、應(yīng)力、表面粗糙度與形貌測量的金標(biāo)準(zhǔn)。DektakPro以卓*易用性提供亞納米級高精度數(shù)據(jù),滿足科研與工業(yè)通用需求;DektakXTL專為大尺寸晶圓和面板設(shè)計(jì),集成防震與自動(dòng)化系統(tǒng),適應(yīng)嚴(yán)苛生產(chǎn)環(huán)境。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制程監(jiān)控、微電子器件驗(yàn)證及光電器件開發(fā),為高*制造提供可靠、可重復(fù)的表面表征解決方案。
    更新時(shí)間:2026-03-06    訪問量:102    型號:
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